UNHT型超納米壓痕儀在滿足常規(guī)納米壓入測(cè)試需求的基礎(chǔ)上，更為對(duì)低熱漂移、小載荷壓入與高精度位移測(cè)量與控制等有較高需求的用戶設(shè)計(jì)制造，擁有的主動(dòng)參比測(cè)量系統(tǒng)及多電容傳感器以監(jiān)控壓入載荷和壓入深度，并實(shí)時(shí)消除噪聲和熱漂移等微小誤差，是市場(chǎng)上現(xiàn)有的Z精準(zhǔn)的納米與超納米尺度動(dòng)態(tài)壓痕測(cè)試儀器。
詳細(xì)介紹
主要特點(diǎn)
用于低載荷測(cè)量的計(jì)量型納米壓痕測(cè)試儀
表面參比系統(tǒng)上的真實(shí)力傳感器確保可直接測(cè)量微牛級(jí)的力
主動(dòng)表面參比技術(shù)：獨(dú)特的*設(shè)計(jì)（歐洲*1828744和美國(guó)*7,685,868）
從低壓入位移（幾納米）到高壓入位移（高達(dá)100μm）
從低載荷(10μN)到高載荷（高達(dá)100mN）
市場(chǎng)上穩(wěn)定性高的納米壓痕測(cè)試儀
*蠕變測(cè)試不需要進(jìn)行熱漂移修正
未修正的熱漂移低至10fm/sec，消除了熱漂移影響
即使在高載荷下也保持高框架剛度(>108N/m)
獨(dú)特的無(wú)熱膨脹Macor材料
載荷和位移的全部反饋控制系統(tǒng)
“快速點(diǎn)陣”壓痕模式帶“模板”模式
采用“快速點(diǎn)陣”壓痕模式的快速測(cè)量點(diǎn)陣：每小時(shí)測(cè)量高達(dá)600次，符合ISO14577儀器化壓入測(cè)試(IIT)要求
全新“模板”模式讓您可以用導(dǎo)出的數(shù)據(jù)創(chuàng)建一個(gè)自定義模板，從而更靈活快速分析數(shù)據(jù)
多樣品夾具用于6個(gè)或更多樣品連夜進(jìn)行一系列測(cè)試
高精度的納米壓痕測(cè)試儀用于進(jìn)行準(zhǔn)確的表面檢測(cè)
高質(zhì)量載荷-位移曲線，載荷<0.1mN
超靈敏表面探測(cè)包含剛度探測(cè)
測(cè)量凝膠和硬質(zhì)材料
載荷分辨率為0.003µN
位移率分辨為0.003nm
可用于多種分析模式的多種測(cè)試模式
多種測(cè)試模式：連續(xù)多周期(CMC)、恒定應(yīng)變速率、用戶自定義、高級(jí)點(diǎn)陣
動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)模式包含“正弦”模式
各種機(jī)械性能的不同分析：硬度、彈性模量、儲(chǔ)能和損耗模量、蠕變、應(yīng)力-應(yīng)變、赫茲應(yīng)力分析
環(huán)境控制：真空、液體、溫度和相對(duì)濕度
安東帕壓痕儀
https://www.chem17.com/st11595/product_16085535.html
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